Ionizující záření na oběžné dráze Země má destruktivní vliv na elektronické systémy. Může tak zvýšit jejich nespolehlivost v důsledku kumulativního radiačního poškození nebo tranzientních jevů jakým je například takzvaný Single Event Upset (SEU), který způsobuje změnu obsahu paměti v elektronických čipech.  Záření v kosmickém prostředí může také poškodit i mechaniku zařízení, kdy materiál například zkřehne, či dojde k jeho povrchovému poškození. Negativní vliv se neomezuje pouze na zařízení, ale postihuje také živé organismy včetně samozřejmě lidí. Aby bylo možné radiaci na oběžné dráze kolem Země a v meziplanetárním prostoru studovat, vyvíjí vědci v Centru aplikované fyziky a pokročilých detekčních systémů (CAPADS) na Fakultě jaderné a fyzikálně inženýrské ČVUT v Praze (FJFI) unikátní pixelové detektory schopné měřit a identifikovat příspěvky různý druhů záření, které se podílejí na celkové absorbované dávce záření.